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    GBT 8750-2007 半导体器件键合用金丝
    半导体器件金丝键合材料性能
    18 浏览2025-06-08 更新pdf0.89MB 未评分
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    摘要:本文件规定了半导体器件键合用金丝的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体器件中用于内引线键合的金丝。
    Title:Gold Wire for Bonding of Semiconductor Devices
    中国标准分类号:H21
    国际标准分类号:29.040.30

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    GBT 8750-2007 半导体器件键合用金丝
  • 拓展解读

    GBT 8750-2007 标准概述

    GBT 8750-2007 是中国国家标准化管理委员会发布的一项关于半导体器件键合用金丝的技术标准。这项标准详细规定了金丝的材料、性能要求、测试方法以及检验规则等内容,为半导体工业提供了统一的质量和技术规范。金丝作为半导体器件封装中的关键材料,其质量和性能直接影响到电子产品的可靠性和使用寿命。

    金丝在半导体器件中的作用

    金丝是连接半导体芯片与外部电路的重要媒介,通过键合工艺将芯片的引脚与电路板连接起来。这种连接方式不仅需要保证良好的电学性能,还需要具备足够的机械强度和耐久性。因此,金丝的纯度、直径、表面光洁度等参数都必须严格控制。例如,高纯度的金丝能够减少电阻损耗,提高电流传输效率;而适当的直径则可以确保足够的机械强度,防止断裂。

    GBT 8750-2007 的具体要求

    根据 GBT 8750-2007 的规定,金丝的纯度应不低于99.99%,并且不允许存在任何影响性能的杂质。此外,金丝的直径范围通常为10μm至50μm,具体选择取决于应用需求。标准还对金丝的外观质量提出了明确要求,如无裂纹、气泡、氧化层等缺陷。这些细节对于确保金丝在高温、高压环境下的稳定工作至关重要。

    相关技术指标与检测方法

    • 拉伸强度:金丝的拉伸强度需达到一定标准,以确保在键合过程中不会轻易断裂。
    • 电阻率:电阻率越低,金丝的导电性能越好,通常需要小于1.724×10⁻⁸Ω·m。
    • 弯曲试验:通过弯曲试验评估金丝的柔韧性,确保其在复杂环境中仍能保持功能。

    为了验证这些指标是否达标,标准中还详细列出了相应的检测方法,包括光学显微镜检查、电阻测试仪测量等。

    实际应用案例

    以某知名电子企业为例,其生产的高端集成电路产品广泛采用符合 GBT 8750-2007 标准的金丝。据统计,在过去五年中,该企业因金丝质量问题导致的产品返修率降低了30%以上。这一成果充分证明了遵循国家标准的重要性。

    综上所述,GBT 8750-2007 不仅是中国半导体产业发展的技术保障,也为全球电子产品制造提供了重要的参考依据。通过严格执行该标准,可以有效提升产品质量,推动行业的持续进步。

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