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摘要:本文件规定了半导体封装用键合金丝的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体器件封装中用于引线键合的金丝。
Title:Gold Wire for Semiconductor Packaging
中国标准分类号:H52
国际标准分类号:29.120.20
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拓展解读
以下是关于 GBT 8750-2014 半导体封装用键合金丝 的常见问题及其详细解答。
GBT 8750-2014 是中国国家标准,规定了半导体封装用键合金丝的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存等内容。该标准适用于半导体器件中用于芯片与引线框架之间连接的键合金丝。
键合金丝主要用于半导体器件的封装过程中,通过热压或超声波焊接技术将芯片与引线框架连接起来,形成电流通路。其性能直接影响半导体器件的可靠性和使用寿命。
键合金丝通常由金(Au)为主要成分,可能含有少量的其他元素如铜(Cu)、钯(Pd)等,以提高其强度、耐腐蚀性或其他性能。具体成分需参考产品规格书。
键合金丝的直径直接影响其承载电流的能力和焊接质量。直径过小可能导致载流能力不足,而直径过大则可能增加焊接难度。因此,选择合适的直径需要根据具体应用场景确定。
两种方式各有优缺点,具体选择取决于设备条件和工艺需求。
键合金丝在高温环境下容易被氧化,导致导电性能下降甚至失效。因此,通常会在金丝表面镀上一层保护膜(如钯层),以防止氧化。
不正确的储存条件可能导致金丝性能下降或损坏。
选择可靠的供应商是保证产品质量的关键。
键合金丝的使用寿命受多种因素影响,包括工作温度、电流密度、环境湿度等。通常可以通过加速老化实验来估算其寿命,但具体数值需根据实际应用情况确定。