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资源简介
摘要：本文件规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法，采用X射线衍射（XRD）法进行测定。本文件适用于电子封装领域中对球形二氧化硅微粉的质量控制和性能评估。
Title：Test Method for Alpha-Crystalline Silica Content in Spherical Silica Micro-powder for Electronic Packaging by XRD
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：25.220 -
封面预览
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拓展解读
GBT 36655-2018主要内容
该标准规定了通过X射线衍射（XRD）法测定电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的方法。本方法适用于球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的定量分析。
- 样品制备：需确保样品均匀且无污染。
- XRD测试条件：包括仪器参数设置、扫描范围和步长等。
- 数据处理：采用内标法或外标法进行定量分析。
- 结果计算：根据衍射峰强度计算α态晶体二氧化硅的含量。
与老版本的变化
相比老版本，新标准在以下几个方面进行了改进：
- 样品要求：增加了对样品均匀性的具体要求。
- 测试条件：优化了XRD测试的参数设置，提高了测试精度。
- 数据处理：引入更先进的数据处理算法，提升了定量分析的准确性。
- 适用范围：扩展了适用的二氧化硅微粉类型。
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