资源简介
摘要:本文件规定了硅单晶抛光试验片的术语和定义、产品分类、技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以硅单晶为原料,经加工制成的用于检测和试验的抛光试验片。
Title:Specification for silicon single crystal polished test wafers
中国标准分类号:H53
国际标准分类号:25.160.30
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拓展解读
根据GBT 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范
,在不违背标准核心原则的前提下,通过优化流程和资源利用,可以实现成本降低和效率提升。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案:
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