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    GBT 15870-1995 硬面光掩模用铬薄膜
    硬面光掩模铬薄膜半导体光刻制造
    13 浏览2025-06-09 更新pdf0.39MB 未评分
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    摘要:本文件规定了硬面光掩模用铬薄膜的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体器件、集成电路及其他微电子技术中使用的硬面光掩模用铬薄膜。
    Title:Hard Surface Photomask Chromium Film
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:25.160

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    GBT 15870-1995 硬面光掩模用铬薄膜
  • 拓展解读

    GBT 15870-1995 硬面光掩模用铬薄膜常见问题解答

    什么是 GBT 15870-1995 标准?

    GBT 15870-1995 是中国国家标准,规定了用于硬面光掩模的铬薄膜的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存等内容。这一标准为光掩模制造提供了技术依据,确保了产品的质量和可靠性。

    铬薄膜在硬面光掩模中的作用是什么?

    铬薄膜是硬面光掩模的关键材料之一,其主要作用包括:

    • 作为遮光层,阻挡紫外线或激光的通过。
    • 提供高精度的图形转移能力。
    • 增强光掩模的机械强度和耐用性。

    为什么需要硬面光掩模?

    硬面光掩模主要用于半导体制造中,具有以下优势:

    • 提高光刻工艺的分辨率和精确度。
    • 增强光掩模的耐磨损性和使用寿命。
    • 适应高精度微细加工的需求。

    GBT 15870-1995 中对铬薄膜的厚度有何要求?

    根据 GBT 15870-1995 的规定,铬薄膜的厚度通常应在 0.1μm 至 0.2μm 范围内。具体厚度需根据实际应用需求进行调整,但必须满足均匀性和附着力的要求。

    如何判断铬薄膜的质量是否符合标准?

    可以通过以下方法检测铬薄膜的质量:

    • 表面形貌检查:使用显微镜观察表面是否有缺陷。
    • 膜厚测量:使用膜厚仪测量厚度是否在规定范围内。
    • 附着力测试:通过划痕测试或剥离测试评估附着力。
    • 光学性能测试:检测遮光率和透过率是否达标。

    铬薄膜的附着力对光掩模的影响有多大?

    附着力是铬薄膜的重要性能指标之一。如果附着力不足,可能导致薄膜脱落或开裂,从而影响光掩模的正常使用。因此,附着力测试是生产过程中的关键环节。

    铬薄膜的均匀性如何影响光掩模的性能?

    铬薄膜的均匀性直接影响光掩模的图形转移精度。不均匀的薄膜会导致曝光过程中光线分布不均,进而影响最终的芯片制造质量。

    GBT 15870-1995 是否适用于所有类型的光掩模?

    GBT 15870-1995 主要适用于硬面光掩模,尤其是用于半导体制造的光掩模。对于其他特殊用途的光掩模(如柔性光掩模),可能需要参考其他相关标准。

    如何选择合适的铬薄膜供应商?

    选择供应商时应注意以下几点:

    • 查看供应商是否具备相关的生产资质和认证。
    • 了解供应商的产品是否符合 GBT 15870-1995 标准。
    • 考察供应商的生产工艺和技术水平。
    • 评估供应商的售后服务能力和交货周期。

    铬薄膜的储存条件有哪些注意事项?

    为了保证铬薄膜的质量,应将其储存在以下条件下:

    • 干燥、无尘的环境中。
    • 温度控制在 15℃ 至 25℃ 范围内。
    • 避免阳光直射和强磁场环境。
    • 定期检查包装密封性,防止受潮或污染。

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