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资源简介
摘要：本文件规定了半导体集成电路数字锁相环的测试方法及其基本原理，包括测试条件、信号参数和性能指标的测量方法。本文件适用于半导体集成电路数字锁相环的设计验证、生产测试及质量评估。
Title：Test Methods for Digital Phase-Locked Loops in Semiconductor Integrated Circuits
中国标准分类号：L74
国际标准分类号：31.080.01 -
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拓展解读
GBT 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法
该标准规定了半导体集成电路中数字锁相环的测试方法，适用于各种数字锁相环电路的性能评估。
主要内容
- 基本原理
- 描述了数字锁相环的工作原理及其在电路中的应用。
- 定义了测试参数，包括锁定时间、频率跟踪范围和相位噪声等。
- 测试环境
- 详细说明了测试所需的设备和条件。
- 强调了测试环境的温度、湿度和电源稳定性要求。
- 测试步骤
- 提供了详细的测试流程，包括初始化、数据采集和结果分析。
- 明确了每个步骤的操作规范和注意事项。
与老版本的变化
- 测试参数更新
- 增加了对新型数字锁相环电路的特定参数测试要求。
- 优化了原有参数的测试精度和方法。
- 测试设备升级
- 引入了更先进的测试仪器，提高了测试效率和准确性。
- 简化了部分复杂测试过程。
- 适用范围扩展
- 涵盖了更多类型的数字锁相环电路。
- 适应了现代电子技术的发展需求。
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