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资源简介
摘要：本文件规定了半导体集成电路中模拟开关的测试方法，包括直流和交流特性的测量。本文件适用于各类含有模拟开关功能的半导体集成电路的性能评估与质量检测。
Title：Test Methods for Analog Switches in Semiconductor Integrated Circuits
中国标准分类号：L70
国际标准分类号：31.080 -
封面预览
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拓展解读
GBT 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法
主要内容总结：
- 定义了半导体集成电路模拟开关的测试方法。
- 详细描述了测试环境、测试条件以及测试步骤。
- 提供了用于评估模拟开关性能的关键参数，如导通电阻、关断隔离度等。
- 规定了测试仪器的选择和校准要求。
与老版本的变化对比：
- 引入了更精确的测量技术以提高测试结果的准确性。
- 更新了测试环境的要求，以适应现代半导体工艺的进步。
- 增加了对新型模拟开关特性的支持，例如低功耗和高频响应。
- 优化了测试流程，减少了测试时间并提高了效率。
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