SJ/T 10438-1993 标准详情

SJ/T 10438-1993 现行
双极型晶体管直流参数测试仪通用技术条件

标准内容导航

标准状态

1993-12-17
1994-06-01

标准信息

电子工业部
制定
电子
行业标准
现行
SJ/T 10438-1993
双极型晶体管直流参数测试仪通用技术条件

相似标准推荐

国家标准
GB/T 29332-2012 现行
半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors(IGBT)
发布日期2012-12-31
实施日期2013-06-01
CCS分类L42
ICS分类31.080.30;31.080.01
国家标准
GB/T 12300-1990 现行
功率晶体管安全工作区测试方法
Test methods of safe operating area for power transistors
发布日期1990-03-15
实施日期1990-08-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.30
国家标准
GB/T 21039.1-2007 现行
半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4-1: Microwave diodes and transistors - Microwave field effect transistors - Blank detail specification
发布日期2007-06-29
实施日期2007-11-01
CCS分类L41
ICS分类31.080.30
国家标准
GB/T 4586-1994 现行
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
Semiconductor devices--Discrete devices--Part 8:Field-effect transistors
发布日期1994-12-30
实施日期1995-08-01
CCS分类L42
ICS分类31.080
行业标准
SJ/T 11765-2020 现行
晶体管低频噪声参数测试方法
发布日期2020-12-09
实施日期2021-04-01
CCS分类L42,L44
ICS分类31.080.30
国家标准
GB/T 15449-1995 现行
管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范
Blank detail-specification for field-effect transistors for case-rated switching application
发布日期1995-01-05
实施日期1995-08-01
CCS分类L44
ICS分类31.080.99
国家标准
GB/T 17294.1-2008 现行
缩微摄影技术 字母数字计算机输出缩微品 质量控制 第1部分: 测试幻灯片和测试数据的特征
Micrographics - Alphanumeric computer output microforms - Quality control - Part 1: Characteristics of the test slide and test data
发布日期2008-07-16
实施日期2009-01-01
CCS分类A14
ICS分类37.080