T/CASAS 025-2023 标准详情
T/CASAS 025-2023
现行
8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸
8-inch silicon carbide wafer reference marking and dimensions
标准内容导航
标准状态
标准信息
适用范围
本文件规定了8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸。 本文件适用于碳化硅切割片、研磨片和抛光片。 注: 碳化硅衬底片主要用于制作电力电子器件的外延衬底。
主要技术内容
本文件规定了8英寸碳化硅衬底片基准标记及尺寸。本文件适用于碳化硅切割片、研磨片和抛光片。注: 碳化硅衬底片主要用于制作电力电子器件的外延衬底。
起草单位
山东大学、广州南砂晶圆半导体技术有限公司、瀚天天成电子科技(厦门)有限公司、广东天域半导体股份有限公司、绍兴中芯集成电路制造股份有限公司、泰科天润半导体科技(北京)有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
起草人
崔潆心、杨祥龙、陈秀芳、徐现刚、来玲玲、于国建、冯淦、丁雄杰、潘国卫、秋琪、徐瑞鹏
相似标准推荐
国家标准
GB/T 43662-2024
现行
蓝宝石图形化衬底片
Patterned sapphire substrate
国家标准
GB/T 24576-2009
现行
高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction
国家标准
GB/T 41751-2022
现行
氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法
Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers
行业标准
SJ/T 11868-2022
现行
硅衬底蓝光功率发光二极管芯片详细规范
行业标准
YS/T 839-2012
现行
硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
国家标准
GB/T 30861-2014
现行
太阳能电池用锗衬底片
Germanium substrate for solar cell
国家标准
GB/T 47089-2026
即将实施
蓝宝石图形化衬底表面图形几何参数的测定方法
Test method for determining geometrical parameters of patterns on patterned sapphire substrate
国家标准
GB/T 37053-2018
现行
氮化镓外延片及衬底片通用规范
General specification for epitaxial wafers and substrates based on gallium nitride
国家标准
GB/T 30856-2025
现行
LED外延芯片用砷化镓衬底
GaAs substrates for LED epitaxial chips
国家标准
GB/T 24580-2009
现行
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
Test method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry
国家标准
GB/T 30858-2014
现行
蓝宝石单晶衬底抛光片
Polished mono-crystalline sapphire substrate product
国家标准
GB/T 32188-2015
现行
氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
国家标准
GB/T 36705-2018
现行
氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法
Test method for carrier concentration of gallium nitride substrates—Raman spectrum method
行业标准
SJ/T 11869-2022
现行
硅衬底白光功率发光二极管芯片详细规范
国家标准
GB/T 30855-2014
现行
LED外延芯片用磷化镓衬底
GaP substrates for LED epitaxial chips
国家标准
GB/T 31353-2014
现行
蓝宝石衬底片弯曲度测试方法
Test methods for bow of sapphire substrates
行业标准
SJ/T 11867-2022
现行
硅衬底蓝光小功率发光二极管详细规范
地方标准
DB32/T 4378-2022
现行
衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
行业标准
SJ/T 11864-2022
现行
半绝缘型碳化硅单晶衬底
行业标准
SJ/T 11865-2022
现行
功率器件用φ150mm n型碳化硅衬底
国家标准
GB/T 32189-2015
现行
氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope
T/YLTSN 0007-2023
现行
尉犁罗布羊选育技术规范