T/CASAS 030-2023 标准详情
T/CASAS 030-2023
现行
GaN毫米波前端芯片测试方法
Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC
标准内容导航
标准状态
标准信息
主要技术内容
T/CASAS 030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波氮化镓前端芯片领域的研发、测试评估以及应用方面的经验总结，对毫米波氮化镓前端芯片性能指标的测试方法进行了详细的规定，包括且不限于测试目的、测试环境、测试方法及步骤、测试工具及仪表等。
起草单位
中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
起草人
周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏
相似标准推荐
国家标准
GB/T 36613-2018
现行
发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
国家标准
GB/T 28856-2012
现行
硅压阻式压力敏感芯片
Silicon piezoresistive pressure-sensitive chip
T/CIE 126-2021
现行
磁随机存储芯片测试方法
T/QGCML 585-2022
现行
LED芯片技术规范
T/BDT 003-2024
现行
高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备
High-speed analog-to-digital converter（ADC）test equipment
T/CIE 134-2022
现行
磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
行业标准
CJ/T 306-2009
现行
建设事业非接触式CPU卡芯片技术要求
T/SNTA 002-2 023
现行
铅酸蓄电池市场运营及回收管理规范 第2部分：收集、中转、贮存和运输
Lead-acid battery market operation and recycling management specifications Part 2: Collection, transit, storage and transportation
下载电子版
正在请求下载信息...