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GB/T 14031-1992 标准详情

GB/T 14031-1992 现行
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

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标准状态

1992-12-17
1993-08-01

标准信息

工业和信息化部（电子）
国家技术监督局
工业和信息化部（电子）
L55
31.200
国家标准
现行
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

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