首页› 电子› GB/T 15651.3-2003

GB/T 15651.3-2003 标准详情

GB/T 15651.3-2003 现行
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

标准内容导航

标准状态

2003-11-24
2004-08-01

标准信息

工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
工业和信息化部（电子）
该标准采用国际标准
L50
31.260
国家标准
现行
GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

相似标准推荐

国家标准
GB/T 19403.1-2003 现行
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
发布日期2003-11-24
实施日期2004-08-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 2900.66-2004 现行
电工术语 半导体器件和集成电路
Electrotechnical terminology--Semiconductor devices and integrated circuits
发布日期2004-05-10
实施日期2004-12-01
CCS分类K04
ICS分类01.040.29
国家标准
GB/T 18500.2-2001 现行
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 2:Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 18500.1-2001 现行
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 17023-1997 现行
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2:Digital integrated circuits--Section two--Family specification for HCMOS digital integrated circuits series 54/74HC，54/74HCT，54/74HCU
发布日期1997-10-07
实施日期1998-09-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 17024-1997 现行
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
Semiconductor devices--integratedcircuits--Part 2:Digital integrated circuits--Section three--Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits series 54/74HC，54/74HCT，54/74HCU
发布日期1997-10-07
实施日期1998-09-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 46894-2025 即将实施
车辆集成电路电磁兼容试验通用规范
EMC test generic specification of vehicle IC
发布日期2025-12-31
实施日期2026-07-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
地方标准
DB31/ 738-2020 现行
集成电路封装单位产品能源消耗限额
发布日期2020-09-01
实施日期2020-11-01
CCS分类F01
ICS分类27.010
行业标准
JR/T 0025.13-2018 现行
中国金融集成电路（IC）卡规范 第13部分：基于借记/贷记应用的小额支付规范
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 17574.9-2006 现行
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-9: Digital integrated circuits - Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
发布日期2006-12-05
实施日期2007-05-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 17574.11-2006 现行
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-11: Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory
发布日期2006-12-05
实施日期2007-05-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 17574.20-2006 现行
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20：Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
发布日期2006-12-05
实施日期2007-05-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 12750-2006 现行
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
Semiconductor devices―Integrated circuits―Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 17554.3-2006 现行
识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices
发布日期2006-03-14
实施日期2006-07-01
CCS分类L64
ICS分类35.240.15
行业标准
YD/T 3036-2023 现行
通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性技术要求
发布日期2023-12-20
实施日期2024-04-01
CCS分类M36
ICS分类33.060.20
行业标准
JR/T 0045.2-2014 现行
中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第2部分：借记/贷记应用终端检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 43796-2024 现行
集成电路封装设备远程运维 数据采集
Remote operation and maintenance of integrated circuit packaging equipment—Data acquisition
发布日期2024-03-15
实施日期2024-10-01
CCS分类L97
ICS分类31.260
行业标准
YD/T 3037.2-2023 现行
通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC
发布日期2023-12-20
实施日期2024-04-01
CCS分类M36
ICS分类33.060.20
国家标准
GB/T 15138-1994 现行
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
Case outlines for film integrated circuits and hybrid integrated circuits
发布日期1994-06-25
实施日期1995-04-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 42968.3-2025 现行
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3: Bulk current injection (BCI) method
发布日期2025-12-02
实施日期2025-12-02
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 36479-2018 现行
集成电路 焊柱阵列试验方法
Integrated circuits—Test methods for column grid array
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 43040-2023 现行
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters
发布日期2023-09-07
实施日期2024-04-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
行业标准
JR/T 0045.4-2014 现行
中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第4部分：非接触卡片检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
行业标准
YD/T 4513-2023 现行
面向消费电子设备的嵌入式通用集成电路卡（eUICC）安全能力技术要求
发布日期2023-12-20
实施日期2024-04-01
CCS分类M21
ICS分类33.03
国家标准
GB/T 16649.8-2002 现行
识别卡 带触点的集成电路卡 第8部分:与安全相关的行业间命令
Identification cards--Intergrated circuit(s) cards with contacts--Part 8:Security related interindustry commands
发布日期2002-12-04
实施日期2003-05-01
CCS分类L64
ICS分类35.240.15
国家标准
GB/T 7582-2004 现行
声学 听阈与年龄关系的统计分布
Acoustics--Statistical distribution of hearing thresholds as a function of age
发布日期2004-05-13
实施日期2004-12-01
CCS分类Z32
ICS分类13.140