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GB/T 43226-2023 标准详情

GB/T 43226-2023 现行
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

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标准状态

2023-09-07
2024-01-01

标准信息

国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
V25
49.140
国家标准
现行
GB/T 43226-2023
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

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