半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管 GBT 15651.6-2023
半导体器件
光电子器件
发光二极管

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半导体紫外发射二极管 第1部分:测试方法 SJT 11818.1-2022
半导体
紫外发射二极管
测试方法

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半导体集成电路 ACDC变换器测试方法 GBT 43040-2023
半导体集成电路
ACDC变换器
测试方法

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半导体紫外发射二极管 第3部分:器件规范 SJT 11818.3-2022
半导体
紫外发射二极管
器件规范

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半导体集成电路 PWM控制器测试方法 GBT 43061-2023
半导体集成电路
PWM控制器
测试方法

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半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 GBT 42848-2023
半导体集成电路
直接数字频率合成器
测试方法

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半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 GBT 42970-2023
半导体集成电路
视频编解码
电路测试

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半导体集成电路 霍尔电路测试方法 GBT 42838-2023
半导体集成电路
霍尔电路
测试方法

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半导体集成电路 驱动器测试方法 GBT 42975-2023
半导体集成电路
驱动器
测试方法

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单体液晶测试方法 GBT 43724-2024
液晶
单体液晶
测试方法

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印制板组装 第6部分:球栅阵列(BGA)和盘栅阵列(LGA)焊点空洞的评估要求及测试方法 GBT 19247.6-2024
印制板组装
球栅阵列
BGA

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同轴通信电缆 第1-119部分:电气试验方法 同轴电缆及电缆组件的射频功率 GBT 17737.119-2024
同轴通信电缆
电气试验方法
射频功率

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基础机电继电器 第2部分:可靠性 GBT 21711.2-2024
机电继电器
可靠性
测试方法

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多目拼接全景成像设备光学性能测试方法 GBT 43531-2023
多目拼接全景成像设备
光学性能
测试方法

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天线及接收系统的无线电干扰 第4部分:无线接收系统 集成无线模块电子设备电磁兼容测试方法 GBZ 40602.4-2023
无线电干扰
无线接收系统
电磁兼容

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