JBT 8340-1996 热电偶用碳化硅保护管
热电偶
碳化硅
保护管

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JBT 8340-2013 碳化硅特种制品 重结晶碳化硅热电偶保护管
碳化硅
重结晶
热电偶保护管

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JCT 2013-2010 碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅板
碳化硅
反应烧结
板材

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JCT 2346-2015 碳化硅陶瓷过滤器
碳化硅
陶瓷过滤器
过滤材料

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半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类 GBT 43493.1-2023
半导体器件
功率器件
碳化硅

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半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 GBT 43493.2-2023
半导体器件
功率器件
碳化硅

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TIAWBS 002-2017 碳化硅外延片表面缺陷测试方法
碳化硅
外延片
表面缺陷

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TIAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法
碳化硅
外延层
载流子浓度

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TZZB 0686-2018 高性能无压烧结碳化硅密封环
碳化硅
密封环
无压烧结

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TIAWBS 006-2018 碳化硅混合模块测试方法
碳化硅
混合模块
测试方法

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TIAWBS 007-2018 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法
碳化硅
同质外延层
厚度测量

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TCASAS 003-2018 p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片
碳化硅
IGBT
外延晶片

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TCASAS 004.1-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷术语
碳化硅
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TCASAS 004.2-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷图谱
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衬底
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TCASAS 009-2019 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法
碳化硅
痕量杂质
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