首页› 冶金› GB/T 30110-2013

GB/T 30110-2013 标准详情

GB/T 30110-2013 现行
空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors

标准内容导航

标准状态

2013-12-17
2014-05-15

标准信息

中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
H80
49.060
国家标准
现行
GB/T 30110-2013
空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors

相似标准推荐

国家标准
GB/T 14139-2019 现行
硅外延片
Silicon epitaxial wafers
发布日期2019-06-04
实施日期2020-05-01
CCS分类H82
ICS分类29.045
国家标准
GB/T 8758-2006 现行
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
发布日期2006-07-18
实施日期2006-11-01
CCS分类H17
ICS分类77.040.01
国家标准
GB/T 14015-1992 现行
硅-蓝宝石外延片
Silicon on sapphire epitaxial wafers
发布日期1992-12-28
实施日期1993-08-01
CCS分类L90
ICS分类
国家标准
GB/T 44334-2024 现行
埋层硅外延片
Silicon epitaxial wafers with buried layers
发布日期2024-08-23
实施日期2025-03-01
CCS分类H82
ICS分类29.045
国家标准
GB/T 23992-2009 现行
涂料中氯代烃含量的测定 气相色谱法
Determination of chlorhydrocarbon content in coatings - Gas chromatographic method
发布日期2009-06-02
实施日期2010-02-01
CCS分类G50
ICS分类87.040