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摘要:本文件规定了半导体集成电路用蚀刻型双列封装引线框架的术语和定义、产品分类、技术要求、检测方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体集成电路用蚀刻型双列封装引线框架的设计、生产和验收。
Title:Semiconductor Integrated Circuits - Etched Dual-In-Line Package Lead Frames - Specification
中国标准分类号:L70
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
以下是关于 GBT 15877-2013 标准的一些常见问题及其详细解答。
问题描述: GBT 15877-2013 是什么标准?它适用于哪些领域?
详细回答: GBT 15877-2013 是中国国家标准,全称是《半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范》。该标准规定了蚀刻型双列封装引线框架的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。它主要适用于半导体集成电路中使用的蚀刻型双列封装引线框架的设计、生产和检测。
问题描述: GBT 15877-2013 对引线框架有哪些具体的技术要求?
详细回答: GBT 15877-2013 对引线框架的技术要求主要包括以下几个方面:
问题描述: 在实际应用中,如何选择适合的引线框架材料?
详细回答: 选择引线框架材料时需要综合考虑以下因素:
问题描述: 引线框架常见的表面处理方法有哪些?它们的作用是什么?
详细回答: 常见的表面处理方法包括:
问题描述: GBT 15877-2013 对引线框架的检验和测试有哪些具体要求?
详细回答: 检验和测试的具体要求包括:
问题描述: GBT 15877-2013 是否适用于所有类型的引线框架?
详细回答: GBT 15877-2013 主要针对蚀刻型双列封装引线框架,不适用于其他类型的封装形式(如冲压型或塑封型)。因此,在选择标准时需明确产品类型,避免误用。