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  • GBT 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范

    GBT 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范
    半导体设备RAM可靠性可用性维修性
    279 浏览2026-03-26 更新pdf2.29MB 共32页未评分
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    《GBT 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范》是中国国家标准,旨在规范半导体设备在可靠性、可用性和维修性方面的定义与测量方法。该标准为半导体设备的设计、制造和评估提供了统一的技术依据,有助于提升设备性能和使用寿命。通过明确RAM指标的计算方式和测试要求,该标准为企业和研究机构提供了科学的参考框架,促进半导体行业的标准化发展。



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