首页› 标准› SJ/T 10416-1993

SJ/T 10416-1993 标准详情

SJ/T 10416-1993 现行
半导体分立器件芯片总规范

标准内容导航

标准状态

1993-12-17
1994-06-01

标准信息

电子工业部
制定
无
电子
行业标准
现行
SJ/T 10416-1993
半导体分立器件芯片总规范

相似标准推荐

国家标准
GB/T 14548-2025 现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
发布日期2025-08-01
实施日期2026-02-01
CCS分类U61
ICS分类47.020.60
行业标准
SJ/T 10071-1991 现行
半导体集成电路CH2022型4位移位寄存器详细规范
发布日期1991-04-08
实施日期1991-07-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 31358-2015 现行
半导体激光器总规范
General specification for semiconductor lasers
发布日期2015-02-04
实施日期2015-08-01
CCS分类L51
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 44687-2024 现行
超硬磨料制品 半导体晶圆精密磨削用砂轮
Superabrasive products—Precision grinding wheels for semiconductor wafers
发布日期2024-09-29
实施日期2025-04-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
国家标准
GB/T 45762-2025 现行
精细陶瓷 室内照明环境下半导体光催化材料测试用光源
Fine ceramics—Light source for testing semiconducting photocatalytic materials used under indoor lighting environment
发布日期2025-06-30
实施日期2026-01-01
CCS分类Q32
ICS分类81.060.30
行业标准
SJ/T 11849-2022 现行
半导体分立器件3DG3500、3DG3501型NPN硅高频小功率 晶体管详细规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L42
ICS分类31.080.30
地方标准
DB31/ 374-2024 现行
半导体行业污染物排放标准
发布日期2024-02-29
实施日期2024-05-01
CCS分类Z60
ICS分类13.040.40
国家标准
GB/T 39771.1-2021 现行
半导体发光二极管光辐射安全 第1部分：要求与等级分类方法
Optical radiation safety of LEDs—Part 1: Safety requirements and classification
发布日期2021-03-09
实施日期2021-10-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 4326-2006 现行
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
发布日期2006-07-18
实施日期2006-11-01
CCS分类H17
ICS分类77.040.01
国家标准
GB/T 6616-2023 现行
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 36005-2018 现行
半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法
Measuring methods of optical radiation safety for semiconductor lighting equipments and systems
发布日期2018-03-15
实施日期2018-10-01
CCS分类L51
ICS分类31.260
行业标准
SJ/T 9014.8.2-2018 现行
半导体器件 分立器件第8-2部分：超结金属氧化物半导体场效应晶体管空白详细规范
发布日期2018-04-30
实施日期2018-07-01
CCS分类L44
ICS分类31.080.30
国家标准
GB/T 43136-2023 现行
超硬磨料制品 半导体芯片精密划切用砂轮
Superabrasive products—Precision dicing and cutting wheels for semiconductor chips
发布日期2023-09-07
实施日期2024-04-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
国家标准
GB/T 20521-2006 现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 42676-2023 现行
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
行业标准
SJ/T 11818.3-2022 现行
半导体紫外发射二极管 第3部分：器件规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.26
地方标准
DB32/T 4894-2024 现行
微机电系统半导体气体传感器性能检测方法
发布日期2024-11-07
实施日期2024-12-07
CCS分类L40
ICS分类31.080
行业标准
SJ/T 10435-1993 现行
半导体电阻应变计总规范
发布日期1993-12-17
实施日期1994-06-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 17950-2000 现行
半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则
Semiconductor converter--Part 6:Application guide for the protection of semiconductor converters against overcurrent by fuses
发布日期2000-01-03
实施日期2000-08-01
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 34971-2017 现行
半导体制造用气体处理指南
Guide for gaseous effluent handling in semiconductor industry
发布日期2017-11-01
实施日期2018-02-01
CCS分类G86
ICS分类71.040.40
国家标准
GB/T 45719-2025 现行
半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
发布日期2025-05-30
实施日期2025-09-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
行业标准
SJ/T 11848-2022 现行
半导体分立器件 3DG2484型NPN硅高频小功率晶体管详细规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L42
ICS分类31.080.30
行业标准
SJ/T 11818.1-2022 现行
半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.26
国家标准
GB/T 31359-2015 现行
半导体激光器测试方法
Test methods of semiconductor lasers
发布日期2015-02-04
实施日期2015-08-01
CCS分类L51
ICS分类31.260
行业标准
SN/T 3480.4-2016 现行
进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分：半导体封装测试设备
发布日期2016-08-23
实施日期2017-03-01
CCS分类L95
ICS分类31-550
国家标准
GB/T 36110-2018 现行
文物展柜密封性能及检测
Sealing performances and test procedures of museum showcase
发布日期2018-03-15
实施日期2018-10-01
CCS分类J01
ICS分类21.020