首页› 冶金› GB/T 4326-2006

GB/T 4326-2006 标准详情

GB/T 4326-2006 现行
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

标准内容导航

标准状态

2006-07-18
2006-11-01

标准信息

国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H17
77.040.01
国家标准
现行
GB/T 4326-2006
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

相似标准推荐

行业标准
SJ/T 11818.3-2022 现行
半导体紫外发射二极管 第3部分：器件规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.26
国家标准
GB/T 21548-2021 现行
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
Methods of measurement of the high speed semiconductor lasers directly modulated for optical fiber communication systems
发布日期2021-04-30
实施日期2021-08-01
CCS分类M31
ICS分类31.260
行业标准
SJ/T 10482-1994 现行
半导体深能级的瞬态电容测试方法
发布日期1994-04-11
实施日期1994-10-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 20521-2006 现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 36356-2018 现行
功率半导体发光二极管芯片技术规范
Technical specification for power light-emitting diode chips
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 7092-2021 现行
半导体集成电路外形尺寸
Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
发布日期2021-03-09
实施日期2021-10-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 11685-2003 现行
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
发布日期2003-07-07
实施日期2004-01-01
CCS分类F80
ICS分类27.120.01
团体标准
T/CIECCPA 007-2024 现行
半导体工业氮氧化物排放要求
Semiconductor Industry Nitrogen Oxide Emission Requirements
发布日期2024-03-04
实施日期2024-03-08
CCS分类Z 05
ICS分类13.040.40 固定源排放限值
团体标准
T/CASAS 016-2022 现行
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 （SiC MOSFET）结壳热阻瞬态双界面测试方法
Transient dual test method for the measurement of the thermal resistance junction to case of silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor（SiC MOSFET）
发布日期2022-07-18
实施日期2022-07-18
CCS分类
ICS分类31.080.01 半导体器分立件综合
团体标准
T/IAWBS 004-2017 现行
电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法
General reliability test requirements and test methods for power semiconductor devices in electric vehicle applications
发布日期2017-12-20
实施日期2017-12-31
CCS分类
ICS分类31.080.01 半导体器分立件综合
国家标准
GB/T 45719-2025 现行
半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
发布日期2025-05-30
实施日期2025-09-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
团体标准
T/QGCML 3970-2024 现行
半导体车间金属粉尘智能检测分析系统
发布日期2024-03-27
实施日期2024-04-11
CCS分类
ICS分类35.240.01 信息技术应用综合
团体标准
T/SZBSIA 006-2025 现行
IC类半导体固晶机技术规范
发布日期2025-12-02
实施日期2025-12-02
CCS分类
ICS分类
团体标准
T/ZZB 2283-2021 现行
半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉
Ultra-high purity graphite powder for semiconductor silicon carbide crystal
发布日期2021-08-26
实施日期2021-09-26
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 11818.1-2022 现行
半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.26
国家标准
GB/T 12667-2012 现行
同步电动机半导体励磁装置总技术条件
General specification for excitation assembly with semiconductors for synchronous motors
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类K62
ICS分类29.160.30
行业标准
JB/T 7483-2005 现行
半导体电阻应变式力传感器
发布日期2005-05-18
实施日期2005-11-01
CCS分类N10
ICS分类
团体标准
T/GVS 005-2022 (2) 现行
半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范
Testing specification for contrast method of absolute pressure capacitance diaphragm vacuum gauge in the semiconductor equipment
发布日期2022-03-28
实施日期2022-03-28
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 34590.11-2022 现行
道路车辆 功能安全 第11部分：半导体应用指南
Road vehicles—Functional safety—Part 11: Guidelines on applications to semiconductors
发布日期2022-12-30
实施日期2023-07-01
CCS分类T35
ICS分类43.040
国家标准
GB/T 35010.6-2018 现行
半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求
Semiconductor die products—Part 6: Requirements for concerning thermal simulation
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 5201-2012 现行
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类F88
ICS分类27.120
行业标准
JB/T 6307.5-1994 现行
电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥
发布日期1994-12-09
实施日期1995-06-01
CCS分类
ICS分类
地方标准
DB32/ 3747-2020 现行
半导体行业污染物排放标准
发布日期2020-02-06
实施日期2020-04-01
CCS分类Z60
ICS分类13.020.40
团体标准
T/GVS 005-2022 现行
半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范
Testing specification for contrast method of absolute pressure capacitance diaphragm vacuum gauge in the semiconductor equipment
发布日期2022-03-28
实施日期2022-03-28
CCS分类J 78
ICS分类23.160
国家标准
GB/T 15529-1995 现行
半导体发光数码管空白详细规范
Blank detail specification for LED numeric displays
发布日期1995-04-06
实施日期1995-11-01
CCS分类L45
ICS分类31.080.99
国家标准
GB/Z 41237-2022 现行
能源互联网系统 术语
Energy internet system—Terms
发布日期2022-03-09
实施日期
CCS分类F10
ICS分类01.040.29