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GB/T 36477-2018 标准详情

GB/T 36477-2018 现行
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

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标准状态

2018-06-07
2019-01-01

标准信息

工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
L56
31.200
国家标准
现行
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

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