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SJ/T 11706-2018 标准详情

SJ/T 11706-2018 现行
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

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标准状态

2018-02-09
2018-04-01

标准信息

工业和信息化部
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
制定
L55
31.2
信息传输、软件和信息技术服务业
无
电子
行业标准
现行
SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

起草单位

中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等

起草人

刘芳、尹航、胡海涛 等

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