首页› 机械› JB/T 10988-2023

JB/T 10988-2023 标准详情

JB/T 10988-2023 现行
碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅 脱硫喷嘴

标准内容导航

标准状态

2023-12-29
2024-07-01

标准信息

工业和信息化部
修订
J43
25.100.70
制造业
产品标准
机械
行业标准
现行
JB/T 10988-2023
碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅 脱硫喷嘴

相似标准推荐

行业标准
JB/T 8340-2013 现行
碳化硅特种制品 重结晶碳化硅热电偶保护管
发布日期2013-04-25
实施日期2013-09-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
国家标准
GB/T 21944.2-2022 现行
碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅窑具 第2部分：异形梁
Special products of silicon carbide—Kiln furniture of reaction bonded silicon carbide—Part 2: Special shapebeams
发布日期2022-07-11
实施日期2023-02-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
行业标准
YB/T 4666-2018 现行
矿热炉用碳化硅炭砖
发布日期2018-10-22
实施日期2019-04-01
CCS分类Q52
ICS分类59.100.20
国家标准
GB/T 21944.4-2022 现行
碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅窑具 第4部分：烧嘴套
Special products of silicon carbide—Kiln furniture of reaction bonded silicon carbide—Part 4: Burner nozzles
发布日期2022-07-11
实施日期2023-02-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
国家标准
GB/T 41153-2021 现行
碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法
Determination of boron, aluminum and nitrogen impurity content in silicon carbide single crystal—Secondary ion mass spectrometry
发布日期2021-12-31
实施日期2022-07-01
CCS分类H17
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 42905-2023 现行
碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
Test method for thickness of silicon carbide epitaxial layer—Infrared reflectance method
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
团体标准
T/IAWBS 001-2021 现行
碳化硅单晶
发布日期2021-09-16
实施日期2021-09-23
CCS分类
ICS分类29.045
国家标准
GB/T 32278-2025 现行
碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法
Test method for thickness and fltaness of monocrystalline silicon carbide wafers
发布日期2025-08-01
实施日期2026-02-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 30656-2023 现行
碳化硅单晶抛光片
Polished monocrystalline silicon carbide wafers
发布日期2023-03-17
实施日期2023-10-01
CCS分类H83
ICS分类29.045
团体标准
T/IAWBS 014-2021 现行
碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
Test method for dislocation density of silicon carbide polished wafers
发布日期2021-09-15
实施日期2021-09-22
CCS分类
ICS分类29.045
行业标准
JB/T 10044-2015 现行
碳化硅特种制品 硅碳管
发布日期2015-10-10
实施日期2016-03-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
行业标准
JB/T 13946-2020 现行
碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅 悬臂桨
发布日期2020-04-16
实施日期2021-01-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
团体标准
T/IAWBS 001-2017 现行
碳化硅单晶
Monocrystalline silicon carbide
发布日期2017-12-20
实施日期2017-12-31
CCS分类
ICS分类29.045
行业标准
JC/T 2149-2012 现行
高纯碳化硅粉体成分分析方法
发布日期2012-12-28
实施日期2013-06-01
CCS分类Q32
ICS分类81.060.10
国家标准
GB/T 34520.6-2017 现行
连续碳化硅纤维测试方法 第6部分：电阻率
Test methods for continuous silicon carbide fiber－Part 6：Resistivity
发布日期2017-11-01
实施日期2018-02-01
CCS分类V13
ICS分类49.025.99
行业标准
SN/T 1039-2020 现行
进出口吨包装碳化硅取样制样方法
发布日期2020-08-27
实施日期2021-03-01
CCS分类G00/09
ICS分类71.040.99
团体标准
T/IAWBS 006-2018 现行
碳化硅混合模块测试方法
Test methods for hybrid silicon carbide modules
发布日期2018-12-06
实施日期2018-12-17
CCS分类
ICS分类29.045
国家标准
GB/T 41765-2022 现行
碳化硅单晶位错密度的测试方法
Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide
发布日期2022-10-14
实施日期2023-05-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
行业标准
JB/T 10376-2013 现行
碳化硅特种制品 氧化硅结合碳化硅板
发布日期2013-04-25
实施日期2013-09-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
团体标准
T/IAWBS 002-2017 现行
碳化硅外延片表面缺陷测试方法
Test method of surface defects for silicon carbide epitaxial wafers
发布日期2017-12-20
实施日期2017-12-31
CCS分类
ICS分类29.045
行业标准
JB/T 10645-2020 现行
碳化硅特种制品 氮化硅结合碳化硅 烧嘴套
发布日期2020-04-16
实施日期2021-01-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
团体标准
T/IAWBS 007-2018 现行
4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法
Test method for thickness of 4H silicon carbide homo-epitaxial layers by infrared reflectance
发布日期2018-12-06
实施日期2018-12-17
CCS分类
ICS分类29.045
国家标准
GB/T 43885-2024 现行
碳化硅外延片
Silicon carbide epitaxial wafers
发布日期2024-04-25
实施日期2024-11-01
CCS分类H83
ICS分类29.045
国家标准
GB/T 34520.7-2017 现行
连续碳化硅纤维测试方法 第7部分：高温强度保留率
Test methods for continuous silicon carbide fiber—Part 7 ：High temperature strength retention rate
发布日期2017-11-01
实施日期2018-02-01
CCS分类V13
ICS分类49.025.99
团体标准
T/ZZB 0686-2018 现行
高性能无压烧结碳化硅密封环
High performance pressureless sintering silicon carbide seal rings
发布日期2018-11-02
实施日期2018-11-30
CCS分类J22
ICS分类21.140
行业标准
JB/T 12975-2016 现行
摄影用色滤光镜
发布日期2016-10-22
实施日期2017-04-01
CCS分类N46
ICS分类37.040.10