GBT 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
红外反射
重掺杂衬底
轻掺杂硅外延层

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GB 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
磁性金属
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厚度测量

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塞尺
测量工具
厚度测量

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GBT 23285-2009 缩微摄影技术.开窗卡增厚区厚度的测量方法
缩微摄影技术
开窗卡
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GBT 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
硅晶片
超薄氧化硅层
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电缆
绝缘
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GBT 31554-2015 金属和非金属基体上非磁性金属覆盖层 覆盖层厚度测量 相敏涡流法
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非金属基体
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GBT 31563-2015 金属覆盖层 厚度测量 扫描电镜法
金属覆盖层
厚度测量
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GBT 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
玻璃衬底
纳米薄膜
厚度测量

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GBT 4955-1997 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法
金属覆盖层
厚度测量
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GBT 4955-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法
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厚度测量
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GBT 6312-1986 壁厚千分尺
壁厚千分尺
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GBT 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
金属
氧化物覆盖层
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