测试
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SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
半导体
测试
方法
712浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法
半导体
测试
方法
577浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法
半导体
测试
方法
853浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
半导体
强度
测试
825浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法
半导体
通量
测试
647浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法
半导体
测试
方法
694浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.6-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法
半导体
测试
方法
732浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法
半导体
测试
方法
937浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法
半导体
测试
方法
515浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则
半导体
总则
测试
803浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法
半导体
测试
方法
638浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2658.3-1986 半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法
测试
方法
电压
756浏览行业标准-电子L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
SJ 2709-1986 印制板组装件温度测试方法
组装
温度
测试
964浏览行业标准-电子L30电子元器件与信息技术 - 电子元件 - 印制电路
QB 972-1986 日用陶瓷模用石膏物理性能测试方法
石膏
测试
方法
651浏览行业标准-轻工
SJ 2534.8-1986 天线测试方法,相位测量
相位
天线
测量
548浏览行业标准-电子M51通信、广播 - 雷达、导航、遥控、遥测、天线 - 天线及其馈线