测试
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SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
半导体
耦合器
间隔
722浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.9-1982 半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法
半导体
耦合器
电流
776浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
半导体
耦合器
电流
883浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
半导体
耦合器
电容
831浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
半导体
耦合器
饱和
921浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
半导体
耦合器
电流
977浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
半导体
耦合器
击穿
625浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
半导体
耦合器
电流
688浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
半导体
耦合器
测试
665浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
半导体
电流
测试
626浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则
半导体
耦合器
总则
826浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
半导体
电流
测试
758浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
半导体
脉冲
下降
876浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
半导体
电容
测试
894浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
半导体
发射极
击穿
734浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件