测试
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SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
半导体
饱和
测试
928浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
半导体
测试
方法
594浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
半导体
电流
测试
941浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
半导体
击穿
电压
622浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则
半导体
总则
测试
935浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2148-1982 硅稳流三极管动态阻抗的测试方法
阻抗
测试
方法
861浏览行业标准-电子L42电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体三极管
SJ 2146-2151-1982 硅稳流三极管测试方法
测试
方法
硅稳流三极管
555浏览行业标准-电子
SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
击穿
电压
测试
985浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
系数
电流
温度
705浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2137-1982 硅稳流二极管测试方法总则
总则
测试
方法
667浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2138-1982 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
电流
测试
方法
754浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2139-1982 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法
阻抗
测试
方法
600浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2140-1982 硅稳流二极管极限电压的测试方法
电压
极限
测试
613浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2065-1982 半导体器件生产用扩散炉测试方法
扩散
测试
方法
847浏览行业标准-电子L97电子元器件与信息技术 - 电子工业生产设备 - 加工专用设备
HB 5662-1981 飞机设备电磁兼容性要求及测试方法
性要求
飞机
电磁兼容
831浏览行业标准-航空V06航空、航天 - 航空、航天综合 - 环境条件、