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GB/T 43748-2024 标准详情

GB/T 43748-2024 现行
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips

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标准状态

2024-03-15
2024-10-01

标准信息

国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
N33
71.040.40
国家标准
现行
GB/T 43748-2024
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips

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