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半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求 GBT 43035-2023
半导体器件
集成电路
膜集成电路

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半导体集成电路 PWM控制器测试方法 GBT 43061-2023
半导体集成电路
PWM控制器
测试方法

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半导体集成电路 快闪存储器(FLASH) GBT 42974-2023
半导体集成电路
快闪存储器
FLASH

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半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器 GBT 42973-2023
半导体集成电路
数字模拟转换器
DA转换器

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半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器 GBT 42839-2023
半导体集成电路
模拟数字转换器
AD转换器

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半导体集成电路 片上系统(SoC) GBT 42835-2023
半导体集成电路
片上系统
SoC

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半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 GBT 42848-2023
半导体集成电路
直接数字频率合成器
测试方法

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半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 GBT 42970-2023
半导体集成电路
视频编解码
电路测试

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半导体集成电路 霍尔电路测试方法 GBT 42838-2023
半导体集成电路
霍尔电路
测试方法

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半导体集成电路 驱动器测试方法 GBT 42975-2023
半导体集成电路
驱动器
测试方法

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