拼音
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SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
半导体
光敏二极管
反向击穿电压

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SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
半导体
光敏二极管
结电容

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SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法
半导体光敏三极管
集电极
发射极

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SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
半导体
光敏三极管
饱和压降

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SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
半导体光敏三极管
暗电流
测试方法

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SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
半导体
光敏二极管
光敏三极管

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SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
半导体光耦合器
直流电流传输比
测试方法

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SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲、上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
半导体光耦合器
脉冲时间
上升时间

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SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
半导体光耦合器
隔离电容
测试方法

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SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
半导体光耦合器
绝缘耐压
测试方法

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