T/CIE 070-2020 标准详情
T/CIE 070-2020
现行
工业级高可靠集成电路评价 第4部分： 非易失性存储器
Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 4:Nonvolatile memory
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标准状态
标准信息
主要技术内容
本部分规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片（以下简称芯片）的检测要求、检测方法和检验规则，暂不涉及ROM。本部分适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性存储器芯片的鉴定验收和评价检测活动。
起草单位
北京芯可鉴科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、杭州万高科技股份有限公司、国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司、北京银联金卡科技有限公司、辰芯科技有限公司、北京全路通信信号研究设计院有限公司、中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所、中车株洲电力机车研究所有限公司、北京博纳电气股份有限公司、深圳市力合微电子有限公司、上海华虹宏力半导体制造有限公司、芯创智(北京)微电子有限公司、通富微电子股份有限公司、中国石油天然气股份有限公司石油化工研究院
起草人
赵东艳、王于波、陈燕宁、邵瑾、张相飞、张鹏、张海峰、何凡、高小飞、朱松超、赵扬、孙云龙、钟明琛、胡雪、王东山、潘成、夏军虎、周芝梅、张永峰、王宏光、任军、赵阳、易君谓、张健、张志宇、钱文生、吴汉明、宫芳、黄强、胡杰、吴峰霞
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