GB/T 42848-2023 标准详情
GB/T 42848-2023
现行
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
国家标准
GB/T 20870.10-2023
现行
半导体器件 第16-10部分:单片微波集成电路技术可接收程序
Semiconductor devices—Part 16-10: Technology Approval Schedule for monolithic microwave integrated circuits
国家标准
GB/T 15157.12-2011
现行
频率低于3MHz的印制板连接器 第12部分:集成电路插座的尺寸、一般要求和试验方法详细规范
Connectors for frequencies below 3 MHz for use with printed boards - Part 12: Detail specification for dimensions, general requirements and tests for a range of sockets designed for use with integrated circuits
国家标准
GB/T 9425-1988
现行
半导体集成电路运算放大器空白详细规范 (可供认证用)
Blank detail specification for semiconductor inte-grated circuit operational amplifiers
行业标准
SJ/T 10261-1991
现行
半导体集成电路CD7343GS锁相环调频立体声解码器详细规范
团体标准
T/CIE 077-2020
现行
工业级高可靠集成电路评价 第12部分: 倾角传感器
Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 12:Tilt sensor
行业标准
YD/T 3037.1-2023
现行
通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端
国家标准
GB/T 4376-1994
现行
半导体集成电路 电压调整器系列和品种
Series and products of voltage regulators for semi-conductor integrated circuits
国家标准
GB/T 18500.1-2001
现行
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)
国家标准
GB/T 6798-1996
现行
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators
行业标准
SJ/T 11706-2018
现行
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
国家标准
GB/T 17574.20-2006
现行
半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20:Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
国家标准
GB/T 14620-2013
现行
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
国家标准
GB/T 17554.3-2006
现行
识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices
行业标准
SJ/T 10265-1991
现行
半导体集成电路CD7668GP带ALC前置放大器详细规范
团体标准
T/CIE 074-2020
现行
工业级高可靠集成电路评价 第9部分:电表用微控制器(MCU)
Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 9:Microcontrollers for electricity meters
国家标准
GB/T 43063-2023
现行
集成电路 CMOS图像传感器测试方法
Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
行业标准
SJ/T 10269-1991
现行
半导体集成电路CF155/CF255/CF355型JFET输入运算放大器详细规范(可供认证用)
行业标准
SJ/T 10074-1991
现行
半导体集成电路CT75188型四线驱动器
行业标准
YD/T 4513-2023
现行
面向消费电子设备的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)安全能力技术要求
团体标准
T/ZZB 2085-2021
现行
重力式集成电路分选机
Gravity integrated circuit handlers
国家标准
GB/T 14032-1992
现行
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
行业标准
SJ/T 10076-1991
现行
半导体集成电路CJ710型电压比较器
国家标准
GB/T 16465-1996
现行
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the capability approval procedures
行业标准
SJ/T 10044-1991
现行
半导体集成电路TL54LS283/CT74LS283型4位二进制超前进位全加器
国家标准
GB/T 43748-2024
现行
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips
地方标准
DB33/T 2366-2021
现行
区域雷电灾害风险评估技术规范