GB/T 43063-2023 标准详情

GB/T 43063-2023 现行
集成电路 CMOS图像传感器测试方法
Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

标准内容导航

标准状态

2023-09-07
2024-01-01

标准信息

工业和信息化部(电子)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部(电子)
L54
31.200
国家标准
现行
GB/T 43063-2023
集成电路 CMOS图像传感器测试方法
Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

相似标准推荐

国家标准
GB/T 14620-2013 现行
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
发布日期2013-11-12
实施日期2014-04-15
CCS分类L90
ICS分类31.030
国家标准
GB/T 16649.8-2002 现行
识别卡 带触点的集成电路卡 第8部分:与安全相关的行业间命令
Identification cards--Intergrated circuit(s) cards with contacts--Part 8:Security related interindustry commands
发布日期2002-12-04
实施日期2003-05-01
CCS分类L64
ICS分类35.240.15
国家标准
GB/T 22351.2-2010 现行
识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第2部分:空中接口和初始化
Identification cards - Contactless integrated circuit(s) cards - Vicinity cards - Part2: Air interface and initialization
发布日期2010-12-01
实施日期2011-04-01
CCS分类L64
ICS分类35.240.15
国家标准
GB/T 36479-2018 现行
集成电路 焊柱阵列试验方法
Integrated circuits—Test methods for column grid array
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 43227-2023 现行
宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
发布日期2023-09-07
实施日期2024-01-01
CCS分类A29
ICS分类49.040
国家标准
GB/T 43040-2023 现行
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters
发布日期2023-09-07
实施日期2024-04-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 16649.10-2002 现行
识别卡 带触点的集成电路卡 第10部分:同步卡的电信号和复位应答
Identification cards--Intergrated circuit(s) cards with contacts--Part 10:Electronic signals and answer to reset for synchronous cards
发布日期2002-12-04
实施日期2003-05-01
CCS分类L64
ICS分类35.240.15
国家标准
GB/T 14619-2013 现行
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
发布日期2013-11-12
实施日期2014-04-15
CCS分类L90
ICS分类31.030
国家标准
GB/T 2900.66-2004 现行
电工术语 半导体器件和集成电路
Electrotechnical terminology--Semiconductor devices and integrated circuits
发布日期2004-05-10
实施日期2004-12-01
CCS分类K04
ICS分类01.040.29
国家标准
GB/T 14031-1992 现行
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
发布日期1992-12-17
实施日期1993-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
行业标准
JR/T 0045.4-2014 现行
中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第4部分:非接触卡片检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
行业标准
JR/T 0025.10-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第10部分:借记/贷记应用个人化指南
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 42968.3-2025 现行
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分:大电流注入(BCI)法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3: Bulk current injection (BCI) method
发布日期2025-12-02
实施日期2025-12-02
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 40577-2021 现行
集成电路制造设备术语
Terminology for integrated circuit(IC)manufacturing equipment
发布日期2021-10-11
实施日期2022-05-01
CCS分类L95
ICS分类31.220
行业标准
JR/T 0025.18-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第18部分:基于安全芯片的线上支付技术规范
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
行业标准
JR/T 0045.5-2014 现行
中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第5部分:非接触终端检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 14028-2018 现行
半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 14119-1993 现行
半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)
Blankdetail specification for semiconductor inte-grated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories
发布日期1993-01-21
实施日期1993-08-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 36614-2018 现行
集成电路 存储器引出端排列
Integrated circuits—Memory devices pin configuration
发布日期2018-09-17
实施日期2019-01-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
行业标准
JR/T 0025.16-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第16部分:IC卡互联网终端规范
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
行业标准
YD/T 4512-2023 现行
面向物联网设备的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)安全能力技术要求
发布日期2023-12-20
实施日期2024-04-01
CCS分类M21
ICS分类33.03
国家标准
GB/T 4376-1994 现行
半导体集成电路 电压调整器系列和品种
Series and products of voltage regulators for semi-conductor integrated circuits
发布日期1994-08-08
实施日期1995-04-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 18500.1-2001 现行
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 15651-1995 现行
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 5:Optoelectronic devices
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L50
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 17574.11-2006 现行
半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-11: Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory
发布日期2006-12-05
实施日期2007-05-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
地方标准
DB14/T 3562-2025 现行
叉车使用管理规则
发布日期2025-08-30
实施日期2025-12-01
CCS分类J83
ICS分类53.060