GB/T 37131-2018 标准详情

GB/T 37131-2018 现行
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy

标准内容导航

标准状态

2018-12-28
2018-12-28

标准信息

中国科学院
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
G10
17.180
国家标准
现行
GB/T 37131-2018
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy

相似标准推荐

国家标准
GB/T 14048.6-2016 现行
低压开关设备和控制设备 第4-2部分:接触器和电动机起动器 交流电动机用半导体控制器和起动器(含软起动器)
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-2: Contactors and motor-starters—AC semiconductor motor controllers and starters (including soft-starters)
发布日期2016-08-29
实施日期2017-03-01
CCS分类K31
ICS分类29.120.40
国家标准
GB/T 35010.8-2018 现行
半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
Semiconductor die products—Part8: EXPRESS model schema for data exchange
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
行业标准
JB/T 8453-1996 现行
半导体变流器 第五部分 不间断电源设备用开关(UPS开关)
发布日期1996-09-03
实施日期1997-01-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 5201-2012 现行
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类F88
ICS分类27.120
行业标准
SJ/T 11763-2020 现行
半导体制造设备人机界面规范
发布日期2020-12-09
实施日期2021-04-01
CCS分类L95
ICS分类31.55
国家标准
GB/T 43894.2-2026 即将实施
半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分:边缘卷曲法(ROA)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 2: Roll-off amount(ROA)
发布日期2026-01-28
实施日期2026-08-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
团体标准
T/CPSS 1004-2025 现行
车规级功率半导体模块动态特性测试规范
Test specifications of dynamic characteristics for power semiconductor modules in automotive applications
发布日期2025-01-22
实施日期2025-01-23
CCS分类L 40
ICS分类31.080.01 半导体器分立件综合
国家标准
GB/T 36358-2018 现行
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for power light-emitting diodes
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 21226-2007 现行
半导体变流器 变流联结的标识代号
Semiconductor convertors - Identification code for convertor connections
发布日期2007-12-03
实施日期2008-05-20
CCS分类K46
ICS分类29.200
行业标准
SJ/T 10416-1993 现行
半导体分立器件芯片总规范
发布日期1993-12-17
实施日期1994-06-01
CCS分类
ICS分类
团体标准
T/ZZB 1718-2020 现行
半导体封装用键合金丝
Gold bonding wire for semiconductor package
发布日期2020-09-30
实施日期2020-10-30
CCS分类H68
ICS分类77.150.99 其他有色金属产品
团体标准
T/SZBSIA 007-2022 现行
IC类半导体固晶机检测规范
Semiconductor die bonder test specification
发布日期2022-09-23
实施日期2022-09-24
CCS分类
ICS分类25-010
国家标准
GB/T 36357-2018 现行
中功率半导体发光二极管芯片技术规范
Technical specification for middle power light-emitting diode chips
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
行业标准
JB/T 6307.3-1992 现行
电力半导体模块测试方法整流管三相桥
发布日期1992-06-26
实施日期1993-01-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 11866-2022 现行
半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L45
ICS分类31.26
国家标准
GB/T 35010.2-2018 现行
半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式
Semiconductor die products—Part 2: Exchange data formats
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
团体标准
T/CEMIA 036-2023 现行
半导体显示用高碱浓度负胶显影液
High alkali concentration negative photoresist developer for semiconductor display
发布日期2023-11-06
实施日期2023-11-30
CCS分类L 90
ICS分类31-030
团体标准
T/CASAS 002-2021 现行
宽禁带半导体术语
Terminology for wide bandgap semiconductors
发布日期2021-03-08
实施日期2021-03-08
CCS分类
ICS分类01.020
行业标准
JC/T 2133-2012 现行
半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
发布日期2012-12-28
实施日期2013-06-01
CCS分类G14
ICS分类
国家标准
GB/T 39771.2-2021 现行
半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法
Optical radiation safety of LEDs—Part 2: Measurement methods
发布日期2021-03-09
实施日期2021-10-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 35010.4-2018 现行
半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求
Semiconductor die products—Part 4: Requirements for die users and suppliers
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 45716-2025 现行
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
发布日期2025-05-30
实施日期2025-09-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 12669-2012 现行
半导体变流串级调速装置总技术条件
General specification for cascade speed control assembly with semiconductor converter
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类K62
ICS分类29.160.30
国家标准
GB/T 11499-2001 现行
半导体分立器件文字符号
Letter symbols for discrete semiconductor devices
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
团体标准
T/CIET 722-2024 现行
半导体用高纯溅射靶材
发布日期2024-10-23
实施日期2024-10-23
CCS分类
ICS分类29.045
地方标准
DB65/T 4017-2017 现行
自治区级检验检测中心筹建规程
发布日期2017-07-20
实施日期2017-08-20
CCS分类A00
ICS分类03.120.20