GB/T 43894.2-2026 标准详情

GB/T 43894.2-2026 即将实施
半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分:边缘卷曲法(ROA)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 2: Roll-off amount(ROA)

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标准状态

2026-01-28
2026-08-01

标准信息

国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
即将实施
GB/T 43894.2-2026
半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分:边缘卷曲法(ROA)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 2: Roll-off amount(ROA)

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