外延片
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GBT 17169-1997 硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
硅抛光片
外延片
表面质量
14浏览2025-06-11上传pdf1.61MB未评分
DLT 2310-2021 电力系统高压功率器件用碳化硅外延片使用条件
碳化硅
外延片
高压功率器件
12浏览2025-06-10上传pdf0.47MB未评分
GBT 14015-1992 硅-兰宝石外延片
硅
兰宝石
外延片
13浏览2025-06-09上传pdf0.3MB未评分
GBT 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
硅
外延片
二次离子质谱
20浏览2025-06-09上传pdf0.81MB未评分
GBT 30655-2014 氮化物LED外延片内量子效率测试方法
氮化物LED
外延片
内量子效率
18浏览2025-06-09上传pdf0.4MB未评分
GBT 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片
LED
氮化镓
外延片
19浏览2025-06-09上传pdf0.56MB未评分
GBT 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
太阳能电池
锗基
Ⅲ-Ⅴ族化合物
13浏览2025-06-09上传pdf0.39MB未评分
GBT 37053-2018 氮化镓外延片及衬底片通用规范
氮化镓
外延片
衬底片
14浏览2025-06-08上传pdf0.39MB未评分
GBT 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
碳化硅
外延片
表面缺陷
19浏览2025-06-08上传pdf10.8MB未评分
GBT 43885-2024 碳化硅外延片
碳化硅
外延片
半导体材料
19浏览2025-06-08上传pdf0.43MB未评分
SJ 3242-1989 砷化镓外延片
砷化镓
外延片
半导体材料
13浏览2025-06-07上传pdf0.33MB未评分
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 GBT 43493.1-2023
半导体器件
功率器件
碳化硅
20浏览2025-06-06上传pdf6.65MB未评分
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 GBT 43493.2-2023
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23浏览2025-06-06上传pdf3.38MB未评分
TIAWBS 002-2017 碳化硅外延片表面缺陷测试方法
碳化硅
外延片
表面缺陷
13浏览2025-06-02上传pdf3.38MB未评分
TCASAS 027-2023 射频GaN HEMT外延片二维电子气迁移率非接触霍尔测量方法
射频
GaN
HEMT
21浏览2025-06-02上传pdf0.78MB未评分