方法
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SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
半导体
测试
方法
595浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
半导体
电流
测试
942浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
半导体
击穿
电压
622浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则
半导体
总则
测试
937浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2196-1982 地面用硅太阳电池电性能测试方法
性能测试
地面
方法
998浏览行业标准-电子F12能源、核技术 - 能源 - 太阳能
SJ 2181-1982 压电滤波器型号命名方法
滤波器
命名
型号
556浏览行业标准-电子L18电子元器件与信息技术 - 电子元件 - 滤波器、延迟线
SJ 2180-1982 压电滤波器电性能测试方法
滤波器
性能测试
方法
644浏览行业标准-电子
SJ 2148-1982 硅稳流三极管动态阻抗的测试方法
阻抗
测试
方法
863浏览行业标准-电子L42电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体三极管
SJ 2146-2151-1982 硅稳流三极管测试方法
测试
方法
硅稳流三极管
557浏览行业标准-电子
SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
击穿
电压
测试
986浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
系数
电流
温度
708浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2137-1982 硅稳流二极管测试方法总则
总则
测试
方法
670浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2138-1982 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
电流
测试
方法
756浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2139-1982 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法
阻抗
测试
方法
602浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
SJ 2140-1982 硅稳流二极管极限电压的测试方法
电压
极限
测试
616浏览行业标准-电子L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管