电阻率
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SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法
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SJT 10455-1993 厚膜混合集成电路用铜导体浆料
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SJT 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针.测试方法
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SJT 10315-1992 四探针探头通用技术条件
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DB13T 5537-2022 向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法
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TIAWBS 011-2019 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
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TIAWBS 013-2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法
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电阻率
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TCASAS 019-2021 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
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