GB/T 43894.1-2024 标准详情
GB/T 43894.1-2024
现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD）
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric（ZDD）
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
国家标准
GB/T 12669-2012
现行
半导体变流串级调速装置总技术条件
General specification for cascade speed control assembly with semiconductor converter
国家标准
GB/T 29856-2013
现行
半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
Characterization of semiconducting single-walled carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
国家标准
GB 19079.3-2005
现行
体育场所开放条件与技术要求 第3部分:蹦极场所
Operation conditions and Technical requirements for gymnasium and playground Part 3:Bungee jump place
下载电子版
正在请求下载信息...