GB/T 13973-2012 标准详情
GB/T 13973-2012
现行
半导体管特性图示仪通用规范
General specification test methods for semiconductor device curve tracers
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
国家标准
GB/T 249-2017
现行
半导体分立器件型号命名方法
The rule of type designation for discrete semiconductor devices
团体标准
T/SZBSIA 007-2025
现行
IC类半导体固晶机检测规范
行业标准
JB/T 8661-1997
现行
电力半导体模块结构件
行业标准
SJ/T 11777-2021
现行
半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
国家标准
GB/T 43894.1-2024
现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric(ZDD)
行业标准
QB/T 5369-2019
现行
半导体制冷器具
国家标准
GB/T 14140-2025
现行
半导体晶片直径测试方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
行业标准
SJ/T 11818.1-2022
现行
半导体紫外发射二极管 第1部分:测试方法
行业标准
JB/T 8669-1997
现行
中频感应加热用半导体变频装置
行业标准
SJ/T 11818.2-2022
现行
半导体紫外发射二极管 第2部分:芯片规范
国家标准
GB/T 19629-2005
现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
行业标准
SJ/T 10482-1994
现行
半导体深能级的瞬态电容测试方法
行业标准
SJ/T 10071-1991
现行
半导体集成电路CH2022型4位移位寄存器详细规范
国家标准
GB/T 7092-2021
现行
半导体集成电路外形尺寸
Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
行业标准
SJ/T 10290-1991
现行
半导体调频广播接收机用中频变压器总规范
行业标准
JB/T 8736-1998
现行
电力半导体模块用氮化铝陶瓷基片
行业标准
SJ/T 10039-1991
现行
半导体集成电路CMOS4000系列译码器
国家标准
GB/T 21226-2007
现行
半导体变流器 变流联结的标识代号
Semiconductor convertors - Identification code for convertor connections
团体标准
T/CPSS 1004-2025
现行
车规级功率半导体模块动态特性测试规范
Test specifications of dynamic characteristics for power semiconductor modules in automotive applications
国家标准
GB/T 249-2026
即将实施
半导体分立器件型号命名方法
Rule of type designation for discrete semiconductor devices
国家标准
GB/T 42676-2023
现行
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
团体标准
T/SZBSIA 006-2022
现行
IC类半导体固晶机技术规范
Semiconductor di e bonder technical?norm
团体标准
T/CIECCPA 007-2024
现行
半导体工业氮氧化物排放要求
Semiconductor Industry Nitrogen Oxide Emission Requirements
团体标准
T/CASAS 002-2021
现行
宽禁带半导体术语
Terminology for wide bandgap semiconductors
国家标准
GB/T 37131-2018
现行
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
地方标准
DB21/T 3720-2023
现行
香螺底播增殖技术规程