首页› 电子› GB/T 13973-2012

GB/T 13973-2012 标准详情

GB/T 13973-2012 现行
半导体管特性图示仪通用规范
General specification test methods for semiconductor device curve tracers

标准内容导航

标准状态

2012-12-31
2013-06-01

标准信息

工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
L85
17.220
国家标准
现行
GB/T 13973-2012
半导体管特性图示仪通用规范
General specification test methods for semiconductor device curve tracers

相似标准推荐

国家标准
GB/T 14548-1993 现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
发布日期1993-07-31
实施日期1994-02-01
CCS分类U61
ICS分类47.020.60
地方标准
DB31/ 374-2024 现行
半导体行业污染物排放标准
发布日期2024-02-29
实施日期2024-05-01
CCS分类Z60
ICS分类13.040.40
国家标准
GB/T 31358-2015 现行
半导体激光器总规范
General specification for semiconductor lasers
发布日期2015-02-04
实施日期2015-08-01
CCS分类L51
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 20521-2006 现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 36356-2018 现行
功率半导体发光二极管芯片技术规范
Technical specification for power light-emitting diode chips
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 14140-2025 现行
半导体晶片直径测试方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
发布日期2025-08-01
实施日期2026-02-01
CCS分类H17
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 14548-2025 现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
发布日期2025-08-01
实施日期2026-02-01
CCS分类U61
ICS分类47.020.60
国家标准
GB/T 3859.4-2004 现行
半导体变流器 包括直接直流变流器的半导体自换相变流器
Semiconductor converter--Self-commutated semiconductor converters including direct d.c.converters
发布日期2004-05-14
实施日期2005-02-01
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 37031-2018 现行
半导体照明术语
Semiconductor lighting terminology
发布日期2018-12-28
实施日期2018-12-28
CCS分类L50
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 31359-2015 现行
半导体激光器测试方法
Test methods of semiconductor lasers
发布日期2015-02-04
实施日期2015-08-01
CCS分类L51
ICS分类31.260
地方标准
DB34/ 4294-2022 现行
半导体行业水污染物排放标准
发布日期2022-10-14
实施日期2023-01-01
CCS分类Z60
ICS分类13.060.30
国家标准
GB/T 39771.1-2021 现行
半导体发光二极管光辐射安全 第1部分：要求与等级分类方法
Optical radiation safety of LEDs—Part 1: Safety requirements and classification
发布日期2021-03-09
实施日期2021-10-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 36359-2018 现行
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 14048.12-2016 现行
低压开关设备和控制设备 第4-3部分：接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-3: Contactors and motor-starters—AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads
发布日期2016-12-13
实施日期2017-07-01
CCS分类K32
ICS分类29.130.20
国家标准
GB/T 6616-2023 现行
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 15652-1995 现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L15
ICS分类31.020
国家标准
GB/T 8750-2022 现行
半导体封装用金基键合丝、带
Gold-based bonding wire and bandlet for semiconductor package
发布日期2022-12-30
实施日期2023-07-01
CCS分类H68
ICS分类77.150.99
国家标准
GB/T 12669-2012 现行
半导体变流串级调速装置总技术条件
General specification for cascade speed control assembly with semiconductor converter
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类K62
ICS分类29.160.30
国家标准
GB/T 5201-2012 现行
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类F88
ICS分类27.120
国家标准
GB/T 1555-2023 现行
半导体单晶晶向测定方法
Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 15651.4-2017 现行
半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers
发布日期2017-05-31
实施日期2017-12-01
CCS分类L51
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 15653-1995 现行
金属氧化物半导体气敏元件测试方法
Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L15
ICS分类31.020
行业标准
SN/T 3480.4-2016 现行
进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分：半导体封装测试设备
发布日期2016-08-23
实施日期2017-03-01
CCS分类L95
ICS分类31-550
国家标准
GB/T 20522-2006 现行
半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器
Semiconductor devices Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 11499-2001 现行
半导体分立器件文字符号
Letter symbols for discrete semiconductor devices
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
地方标准
DB21/T 3720-2023 现行
香螺底播增殖技术规程
发布日期2023-04-30
实施日期2023-05-30
CCS分类B50
ICS分类65.150