T/CPIA 0057-2024 标准详情
T/CPIA 0057-2024
现行
光伏硅片多线切割机技术要求
标准内容导航
标准状态
标准信息
主要技术内容
本文件规定光伏硅片多线切割机的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于光伏硅片多线切割机的设计、生产和检验。
起草单位
青岛高测科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、山东大学机械工程学院、晶澳太阳能有限公司、四川晶科能源有限公司、青岛科技大学、北京京运通科技股份有限公司、曲靖阳光新能源股份有限公司、江苏美科太阳能科技股份有限公司、浙江晶盛机电股份有限公司
起草人
张璐、张秀涛、周波、李淮宁、葛培琪、张在存、陈养俊、高伟、夏树胜、赵亮、程正景、王金荣
相似标准推荐
国家标准
GB/T 26067-2010
现行
硅片切口尺寸测试方法
Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
国家标准
GB/T 6621-2009
现行
硅片表面平整度测试方法
Testing methods for surface flatness of silicon slices
行业标准
SJ/T 10627-1995
现行
通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法
国家标准
GB/T 19922-2005
现行
硅片局部平整度非接触式标准测试方法
Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning
地方标准
DB31/T 792-2026
现行
硅单晶棒及单晶硅片单位产品能源消耗限额
国家标准
GB/T 26068-2018
现行
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
国家标准
GB/T 42789-2023
现行
硅片表面光泽度的测试方法
Test method for gloss of silicon wafer
国家标准
GB/T 34479-2017
现行
硅片字母数字标志规范
Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
国家标准
GB/T 43315-2023
现行
硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法
Test method for flow pattern defects in silicon wafer—Etching technique
地方标准
DB31/ 792-2020
现行
硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额
国家标准
GB/T 30860-2014
现行
太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
国家标准
GB/T 6619-2009
现行
硅片弯曲度测试方法
Test methods for bow of silicon wafers
国家标准
GB/T 11073-2007
现行
硅片径向电阻率变化的测量方法
Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices
国家标准
GB/T 32814-2016
现行
硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
Silicon-based MEMS fabrication technology—Specification for criterion of the SOI wafer based MEMS process
T/CPIA 0022-2020
现行
光伏硅片制造业绿色工厂评价要求
T/CPIA 0061-2024
现行
质量分级及“领跑者”评价要求 光伏硅片
行业标准
JC/T 2066-2011
现行
太阳能电池硅片用石英玻璃扩散管
行业标准
YB/T 4397-2014
现行
切割硅片用电镀黄铜钢丝
行业标准
JC/T 2065-2011
现行
太阳能电池硅片用石英舟
国家标准
GB/T 6617-2009
现行
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
行业标准
HG/T 5962-2021
现行
硅片切割废液处理处置方法
国家标准
GB/T 13388-2009
现行
硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
国家标准
GB/T 19444-2025
现行
硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法
Test method for oxygen precipition characteristics of silicon wafers—Interstitial oxygen reduction
T/CPIA 0037-2022
现行
光伏晶体硅片规范
T/SATA 068-2024
现行
动物源性食品中氯霉素和甲硝唑残留量的测定液相色谱-串联质谱法
Determination of chloramphenicol and metronidazole residues in pork and beef by liquid chromatography-tandem mass spectrometry