GB/T 19444-2025 标准详情
GB/T 19444-2025
现行
硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法
Test method for oxygen precipition characteristics of silicon wafers—Interstitial oxygen reduction
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
国家标准
GB/T 19922-2005
现行
硅片局部平整度非接触式标准测试方法
Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning
国家标准
GB/T 6621-2009
现行
硅片表面平整度测试方法
Testing methods for surface flatness of silicon slices
国家标准
GB/T 13388-2009
现行
硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
国家标准
GB/T 26068-2018
现行
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
国家标准
GB/T 26067-2010
现行
硅片切口尺寸测试方法
Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
国家标准
GB/T 6619-2009
现行
硅片弯曲度测试方法
Test methods for bow of silicon wafers
国家标准
GB/T 42467.9-2023
现行
中医临床名词术语 第9部分：耳鼻喉科学
Clinical terminology of traditional Chinese medicine—Part 9：Otorhinolaryngology
下载电子版
正在请求下载信息...