GB/T 34590.11-2022 标准详情

GB/T 34590.11-2022 现行
道路车辆 功能安全 第11部分:半导体应用指南
Road vehicles—Functional safety—Part 11: Guidelines on applications to semiconductors

标准内容导航

标准状态

2022-12-30
2023-07-01

标准信息

工业和信息化部
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部
该标准采用国际标准
T35
43.040
国家标准
现行
GB/T 34590.11-2022
道路车辆 功能安全 第11部分:半导体应用指南
Road vehicles—Functional safety—Part 11: Guidelines on applications to semiconductors

相似标准推荐

行业标准
JB/T 6307.2-1992 现行
电力半导体模块测试方法整流管单相桥
发布日期1992-06-26
实施日期1993-01-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 10149-1991 现行
电子元器件图形库 半导体分立器件图形
发布日期1991-04-02
实施日期1991-07-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 20521-2006 现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 12667-2012 现行
同步电动机半导体励磁装置总技术条件
General specification for excitation assembly with semiconductors for synchronous motors
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类K62
ICS分类29.160.30
国家标准
GB/T 4326-2006 现行
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
发布日期2006-07-18
实施日期2006-11-01
CCS分类H17
ICS分类77.040.01
行业标准
SJ/T 11866-2022 现行
半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L45
ICS分类31.26
国家标准
GB/T 6616-2023 现行
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 7581-1987 现行
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
发布日期1987-03-27
实施日期1987-11-01
CCS分类L42
ICS分类31.080
国家标准
GB/T 11685-2003 现行
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
发布日期2003-07-07
实施日期2004-01-01
CCS分类F80
ICS分类27.120.01
行业标准
SJ/T 10071-1991 现行
半导体集成电路CH2022型4位移位寄存器详细规范
发布日期1991-04-08
实施日期1991-07-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 10436-1993 现行
半导体电阻应变计空白详细规范
发布日期1993-12-17
实施日期1994-06-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
YY/T 1751-2020 现行
激光治疗设备 半导体激光鼻腔内照射治疗仪
发布日期2020-09-27
实施日期2021-09-01
CCS分类C41
ICS分类11.040.60
国家标准
GB/T 35010.7-2018 现行
半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
Semiconductor die products—Part 7: XML schema for data exchange
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 11499-2001 现行
半导体分立器件文字符号
Letter symbols for discrete semiconductor devices
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
地方标准
DB61/T 1448-2021 现行
大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
发布日期2021-03-22
实施日期2021-04-22
CCS分类L40
ICS分类31.08
国家标准
GB/T 19629-2005 现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
发布日期2005-01-17
实施日期2005-06-01
CCS分类C43
ICS分类11.040.50
行业标准
SJ/T 11763-2020 现行
半导体制造设备人机界面规范
发布日期2020-12-09
实施日期2021-04-01
CCS分类L95
ICS分类31.55
行业标准
SJ/T 9014.8.2-2018 现行
半导体器件 分立器件第8-2部分:超结金属氧化物半导体场效应晶体管空白详细规范
发布日期2018-04-30
实施日期2018-07-01
CCS分类L44
ICS分类31.080.30
国家标准
GB/T 42676-2023 现行
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 15652-1995 现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L15
ICS分类31.020
地方标准
DB32/ 3747-2020 现行
半导体行业污染物排放标准
发布日期2020-02-06
实施日期2020-04-01
CCS分类Z60
ICS分类13.020.40
行业标准
JC/T 597-2011 现行
半导体用透明石英玻璃管
发布日期2011-12-20
实施日期2012-07-01
CCS分类Q35
ICS分类81.040.30
国家标准
GB/T 21226-2007 现行
半导体变流器 变流联结的标识代号
Semiconductor convertors - Identification code for convertor connections
发布日期2007-12-03
实施日期2008-05-20
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 34971-2017 现行
半导体制造用气体处理指南
Guide for gaseous effluent handling in semiconductor industry
发布日期2017-11-01
实施日期2018-02-01
CCS分类G86
ICS分类71.040.40
行业标准
JB/T 7483-2005 现行
半导体电阻应变式力传感器
发布日期2005-05-18
实施日期2005-11-01
CCS分类N10
ICS分类
国家标准
GB/T 42267-2022 现行
柔性多孔聚合物材料 在潮湿条件下压缩永久变形的测定
Flexible cellular polymeric materials—Determination of compression set under humid conditions
发布日期2022-12-30
实施日期2023-04-01
CCS分类G47
ICS分类83.140.99