首页› 医药› GB/T 19629-2005

GB/T 19629-2005 标准详情

GB/T 19629-2005 现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging

标准内容导航

标准状态

2005-01-17
2005-06-01

标准信息

国家药监局
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家药监局
该标准采用国际标准
C43
11.040.50
国家标准
现行
GB/T 19629-2005
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging

相似标准推荐

国家标准
GB/T 8750-2022 现行
半导体封装用金基键合丝、带
Gold-based bonding wire and bandlet for semiconductor package
发布日期2022-12-30
实施日期2023-07-01
CCS分类H68
ICS分类77.150.99
国家标准
GB/T 43894.1-2024 现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD）
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric（ZDD）
发布日期2024-04-25
实施日期2024-11-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 20521-2006 现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 4326-2006 现行
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
发布日期2006-07-18
实施日期2006-11-01
CCS分类H17
ICS分类77.040.01
国家标准
GB/T 3859.4-2004 现行
半导体变流器 包括直接直流变流器的半导体自换相变流器
Semiconductor converter--Self-commutated semiconductor converters including direct d.c.converters
发布日期2004-05-14
实施日期2005-02-01
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 21226-2007 现行
半导体变流器 变流联结的标识代号
Semiconductor convertors - Identification code for convertor connections
发布日期2007-12-03
实施日期2008-05-20
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 15653-1995 现行
金属氧化物半导体气敏元件测试方法
Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L15
ICS分类31.020
国家标准
GB/T 15652-1995 现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L15
ICS分类31.020
国家标准
GB/T 29856-2013 现行
半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
Characterization of semiconducting single-walled carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
发布日期2013-11-12
实施日期2014-04-15
CCS分类G12
ICS分类71.060.99
国家标准
GB/T 5201-2012 现行
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类F88
ICS分类27.120
国家标准
GB/T 1555-2023 现行
半导体单晶晶向测定方法
Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 37031-2018 现行
半导体照明术语
Semiconductor lighting terminology
发布日期2018-12-28
实施日期2018-12-28
CCS分类L50
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 43366-2023 现行
宇航用半导体分立器件通用规范
General specification for discrete semiconductor devices of space application
发布日期2023-11-27
实施日期2024-03-01
CCS分类31.080.01
ICS分类49.035
国家标准
GB/T 20522-2006 现行
半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器
Semiconductor devices Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 11499-2001 现行
半导体分立器件文字符号
Letter symbols for discrete semiconductor devices
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 14548-2025 现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
发布日期2025-08-01
实施日期2026-02-01
CCS分类U61
ICS分类47.020.60
国家标准
GB/T 11685-2003 现行
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
发布日期2003-07-07
实施日期2004-01-01
CCS分类F80
ICS分类27.120.01
国家标准
GB/T 7581-1987 现行
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
发布日期1987-03-27
实施日期1987-11-01
CCS分类L42
ICS分类31.080
国家标准
GB/T 12669-2012 现行
半导体变流串级调速装置总技术条件
General specification for cascade speed control assembly with semiconductor converter
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类K62
ICS分类29.160.30
国家标准
GB/T 14548-1993 现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
发布日期1993-07-31
实施日期1994-02-01
CCS分类U61
ICS分类47.020.60
地方标准
DB61/T 1448-2021 现行
大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
发布日期2021-03-22
实施日期2021-04-22
CCS分类L40
ICS分类31.08
国家标准
GB/T 15529-1995 现行
半导体发光数码管空白详细规范
Blank detail specification for LED numeric displays
发布日期1995-04-06
实施日期1995-11-01
CCS分类L45
ICS分类31.080.99
地方标准
DB31/ 374-2024 现行
半导体行业污染物排放标准
发布日期2024-02-29
实施日期2024-05-01
CCS分类Z60
ICS分类13.040.40
地方标准
DB34/ 4294-2022 现行
半导体行业水污染物排放标准
发布日期2022-10-14
实施日期2023-01-01
CCS分类Z60
ICS分类13.060.30
行业标准
SN/T 3480.4-2016 现行
进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分：半导体封装测试设备
发布日期2016-08-23
实施日期2017-03-01
CCS分类L95
ICS分类31-550
国家标准
GB/T 19816.6-2005 现行
涂覆涂料前钢材表面处理 喷射清理用金属磨料的试验方法 第6部分:外来杂质的测定
Preparation of steel substrates before application of paints and related products-Test methods for metallic blast-cleaning abrasives-Part 6:Determination of foreign matter
发布日期2005-09-14
实施日期2006-04-01
CCS分类A29
ICS分类25.220.10