GB/T 11685-2003 标准详情
GB/T 11685-2003
现行
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
地方标准
DB31/ 374-2024
现行
半导体行业污染物排放标准
国家标准
GB/T 1555-2023
现行
半导体单晶晶向测定方法
Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
国家标准
GB/T 43366-2023
现行
宇航用半导体分立器件通用规范
General specification for discrete semiconductor devices of space application
国家标准
GB/T 15652-1995
现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
国家标准
GB/T 14548-1993
现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
国家标准
GB/T 7581-1987
现行
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
国家标准
GB/T 36359-2018
现行
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
地方标准
DB34/ 4294-2022
现行
半导体行业水污染物排放标准
国家标准
GB/T 8750-2022
现行
半导体封装用金基键合丝、带
Gold-based bonding wire and bandlet for semiconductor package
行业标准
SN/T 3480.4-2016
现行
进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分：半导体封装测试设备
国家标准
GB/T 12669-2012
现行
半导体变流串级调速装置总技术条件
General specification for cascade speed control assembly with semiconductor converter
国家标准
GB/T 43894.1-2024
现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD）
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric（ZDD）
国家标准
GB/T 29856-2013
现行
半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
Characterization of semiconducting single-walled carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
国家标准
GB/Z 18700.5-2003
现行
远动设备及系统 第6-1部分:与ISO标准和ITU-T建议兼容的远动协议标准的应用环境和结构
Telecontrol equipment and systems--Part 6-1: Telecontrol protocols compatible with ISO standards and ITU-T recommendations--Application contextand organization of standards
下载电子版
正在请求下载信息...