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GB/T 14140-2025 标准详情

GB/T 14140-2025 现行
半导体晶片直径测试方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

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标准状态

2025-08-01
2026-02-01

标准信息

国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
H17
77.040
国家标准
现行
GB/T 14140-2025
半导体晶片直径测试方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer

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