SJ/T 10482-1994 标准详情
SJ/T 10482-1994
现行
半导体深能级的瞬态电容测试方法
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
国家标准
GB/T 20522-2006
现行
半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器
Semiconductor devices Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
国家标准
GB/T 13973-2012
现行
半导体管特性图示仪通用规范
General specification test methods for semiconductor device curve tracers
国家标准
GB/T 42676-2023
现行
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
国家标准
GB/T 11685-2003
现行
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
地方标准
DB31/ 374-2024
现行
半导体行业污染物排放标准
国家标准
GB/T 36359-2018
现行
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
国家标准
GB/T 1555-2023
现行
半导体单晶晶向测定方法
Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
国家标准
GB/T 14548-2025
现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
国家标准
GB/T 4728.5-2018
现行
电气简图用图形符号 第5部分:半导体管和电子管
Graphical symbols for electrical diagrams—Part 5:Semiconductors and electron tubes
国家标准
GB/T 11499-2001
现行
半导体分立器件文字符号
Letter symbols for discrete semiconductor devices
国家标准
GB/T 43366-2023
现行
宇航用半导体分立器件通用规范
General specification for discrete semiconductor devices of space application
国家标准
GB/T 46227-2025
即将实施
半导体单晶材料透过率测试方法
Test method for transmittance of semiconductor single crystal materials
国家标准
GB/T 36005-2018
现行
半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法
Measuring methods of optical radiation safety for semiconductor lighting equipments and systems
国家标准
GB/T 20521-2006
现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
国家标准
GB/T 45716-2025
现行
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
国家标准
GB/T 31358-2015
现行
半导体激光器总规范
General specification for semiconductor lasers
国家标准
GB/T 19629-2005
现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
行业标准
QB/T 5369-2019
现行
半导体制冷器具
国家标准
GB/T 29856-2013
现行
半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
Characterization of semiconducting single-walled carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
地方标准
DB61/T 1448-2021
现行
大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
国家标准
GB/T 5201-2012
现行
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
国家标准
GB/T 30116-2013
现行
半导体生产设施电磁兼容性要求
Requirements for semiconductor manufacturing facility electromagnetic compatibility
国家标准
GB/T 44687-2024
现行
超硬磨料制品 半导体晶圆精密磨削用砂轮
Superabrasive products—Precision grinding wheels for semiconductor wafers
国家标准
GB/T 12669-2012
现行
半导体变流串级调速装置总技术条件
General specification for cascade speed control assembly with semiconductor converter
行业标准
SJ/T 11850-2022
现行
半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范
行业标准
SJ/T 11731-2018
现行
钢铁供应链协同规范 业务需求和整体框架