SJ/T 11820-2022 标准详情
SJ/T 11820-2022
现行
半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
标准内容导航
标准状态
标准信息
适用范围
适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01 V~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过 1 nA~10 A,脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10 A~1 200 A 的分立器件测试设备
起草单位
中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司
起草人
刘冲、李洁、张珊 等
相似标准推荐
国家标准
GB/T 17950-2000
现行
半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则
Semiconductor converter--Part 6:Application guide for the protection of semiconductor converters against overcurrent by fuses
行业标准
SJ/T 9014.8.2-2018
现行
半导体器件 分立器件第8-2部分:超结金属氧化物半导体场效应晶体管空白详细规范
行业标准
SJ/T 10685-1995
现行
半导体调幅广播收音机用中频变压器及振荡线圈
国家标准
GB/T 14048.6-2016
现行
低压开关设备和控制设备 第4-2部分:接触器和电动机起动器 交流电动机用半导体控制器和起动器(含软起动器)
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-2: Contactors and motor-starters—AC semiconductor motor controllers and starters (including soft-starters)
国家标准
GB/T 4728.5-2018
现行
电气简图用图形符号 第5部分:半导体管和电子管
Graphical symbols for electrical diagrams—Part 5:Semiconductors and electron tubes
地方标准
DB34/ 4294-2022
现行
半导体行业水污染物排放标准
国家标准
GB/T 15529-1995
现行
半导体发光数码管空白详细规范
Blank detail specification for LED numeric displays
地方标准
DB32/ 3747-2020
现行
半导体行业污染物排放标准
国家标准
GB/T 4326-2006
现行
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
国家标准
GB/T 1555-2023
现行
半导体单晶晶向测定方法
Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
国家标准
GB/T 36359-2018
现行
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
国家标准
GB/T 36356-2018
现行
功率半导体发光二极管芯片技术规范
Technical specification for power light-emitting diode chips
国家标准
GB/T 43894.1-2024
现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric(ZDD)
行业标准
QB/T 5369-2019
现行
半导体制冷器具
国家标准
GB/T 14548-1993
现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
国家标准
GB/T 31359-2015
现行
半导体激光器测试方法
Test methods of semiconductor lasers
行业标准
SJ/T 10041-1991
现行
半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器
行业标准
SJ/T 11763-2020
现行
半导体制造设备人机界面规范
国家标准
GB/T 39771.1-2021
现行
半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法
Optical radiation safety of LEDs—Part 1: Safety requirements and classification
国家标准
GB/T 14048.12-2016
现行
低压开关设备和控制设备 第4-3部分:接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-3: Contactors and motor-starters—AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads
国家标准
GB/T 45716-2025
现行
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
国家标准
GB/T 11499-2001
现行
半导体分立器件文字符号
Letter symbols for discrete semiconductor devices
国家标准
GB/T 45719-2025
现行
半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验
Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
国家标准
GB/T 20521-2006
现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
行业标准
SN/T 3480.4-2016
现行
进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设备
行业标准
SJ/T 10588.20-1994
现行
DB-473型电子玻璃技术数据