GB/T 15529-1995 标准详情
GB/T 15529-1995
现行
半导体发光数码管空白详细规范
Blank detail specification for LED numeric displays
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
国家标准
GB/T 15651.4-2017
现行
半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers
国家标准
GB/T 12667-2012
现行
同步电动机半导体励磁装置总技术条件
General specification for excitation assembly with semiconductors for synchronous motors
国家标准
GB/T 24578-2024
现行
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
国家标准
GB/T 15652-1995
现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
国家标准
GB/T 37131-2018
现行
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
国家标准
GB/T 43894.2-2026
即将实施
半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分:边缘卷曲法(ROA)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 2: Roll-off amount(ROA)
国家标准
GB/T 29845-2013
现行
半导体制造设备的最终装配、包装、运输、拆包及安放导则
Guide for final assembly, packaging,transportation, unpacking, and relocation of semiconductor manufacturing equipment
国家标准
GB/T 26070-2010
现行
化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
行业标准
YY/T 1751-2020
现行
激光治疗设备 半导体激光鼻腔内照射治疗仪
国家标准
GB/T 29299-2012
现行
半导体激光测距仪通用技术条件
General specification of semiconductor laser rangefinder
行业标准
SJ/T 10290-1991
现行
半导体调频广播接收机用中频变压器总规范
团体标准
T/CEMIA 036-2023
现行
半导体显示用高碱浓度负胶显影液
High alkali concentration negative photoresist developer for semiconductor display
地方标准
DB32/ 3747-2020
现行
半导体行业污染物排放标准
国家标准
GB/T 30116-2013
现行
半导体生产设施电磁兼容性要求
Requirements for semiconductor manufacturing facility electromagnetic compatibility
行业标准
JB/T 6307.5-1994
现行
电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥
国家标准
GB/T 36005-2018
现行
半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法
Measuring methods of optical radiation safety for semiconductor lighting equipments and systems
行业标准
JB/T 6307.2-1992
现行
电力半导体模块测试方法整流管单相桥
团体标准
T/ZZB 3888-2024
现行
半导体芯片测试用探针头
团体标准
T/CASAS 015-2022
现行
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法
Power cycling test method for silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor(SiC MOSFET)
行业标准
SJ/T 10039-1991
现行
半导体集成电路CMOS4000系列译码器
行业标准
SJ/T 10585-1994
现行
半导体分立器件表面安装器件外型尺寸及引线框架尺寸
行业标准
QB/T 5369-2019
现行
半导体制冷器具
团体标准
T/QGCML 1407-2023
现行
半导体光伏制造用双套管密封装置
行业标准
JB/T 6307.3-1992
现行
电力半导体模块测试方法整流管三相桥
国家标准
GB/T 5201-2012
现行
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
国家标准
GB/T 44211-2024
现行
消费品质量分级导则 家具
Guidelines for quality grading of consumer products—Furniture