耦合器
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SJ 2218-1982 半导体光敏二极管型光耦合器
半导体
耦合器
二极管型光
799浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
半导体
耦合器
绝缘
963浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
半导体
耦合器
电阻
888浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
半导体
耦合器
间隔
708浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.9-1982 半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法
半导体
耦合器
电流
770浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
半导体
耦合器
电流
878浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
半导体
耦合器
贮存
725浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
半导体
耦合器
饱和
916浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
半导体
发射极
耦合器
563浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
半导体
耦合器
电容
819浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
半导体
耦合器
击穿
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SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
半导体
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电流
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SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
半导体
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电流
684浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
半导体
耦合器
测试
661浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则
半导体
耦合器
总则
822浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件